Componentes electrónicos : SN74BCT8374ADWG4

Fabricante : Texas Instruments

Embalaje :

Pins :

Descripción : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

Temperatura : Min °C | Máx °C

Datasheet :

• SN74BCT8374A
• SN74BCT8374ADW
• SN74BCT8374ADWE4
• SN74BCT8374ADWG4
• SN74BCT8374ADWR
• SN74BCT8374ADWRE4
• SN74BCT8374ADWRG4
• SN74BCT8374ANT
• SN74BCT8374ANTE4